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Titel:

Spectromicroscopy of silicide phases formed at Ni/Si interfaces

Autor(en):
Gregoratti, L; Günther, S; Kovac, J; Marsi, M; Kiskinova, M
Zeitschriftentitel:
Applied Surface Science
Jahr:
1999
Band / Volume:
144-145
Seitenangaben Beitrag:
255-259
Volltext / DOI:
doi:10.1016/s0169-4332(98)00807-1
Verlag / Institution:
Elsevier BV
Publikationsdatum:
01.04.1999
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