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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Sedivy, O.; Krempaszky, C.; Holy, S.
Titel:
Electronic Speckle Pattern Interferometry Measurement of Residual Stress
Kongress- / Buchtitel:
Proc. 25th Danubia-Adria Symposium on Advances in Experimental Mechanics
Verlagsort:
Budweis, CZ
Jahr:
2008
Seiten:
229-230
Nachgewiesen in:
Scopus
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Werkstoffkunde und Werkstoffmechanik
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