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- Original title:
- Numerische Modellierung des selektiven Laserschmelzens der Titanlegierung Ti-6Al-4V
- Translated title:
- A numerical model of the selective laser melting process of titanium alloy Ti-6Al-4V
- Author:
- Holfelder, Peter Josef
- Year:
- 2018
- Document type:
- Dissertation
- Faculty/School:
- Fakultät für Maschinenwesen
- Advisor:
- Werner, Ewald A. (Prof. Dr. habil. Dr. h.c.)
- Referee:
- Werner, Ewald A. (Prof. Dr. habil. Dr. h.c.); Adams, Nikolaus A. (Prof. Dr.)
- Language:
- de
- Subject group:
- WER Werkstoffwissenschaften
- Keywords:
- Phasenfeld, Textur, Mikrostruktur, XRD, EBSD, EDX, WDX, Simulation, Orientierungsfeld, Selektives Laserschmelzen, Ti-6Al-4V
- Translated keywords:
- Phasefield, Texture, Microstructure, XRD, EBSD, EDS, WDS Simulation, Orientation-Field, Selective Laser Melting, Ti-6Al-4V
- TUM classification:
- WER 000d
- Abstract:
- Die Mikrostrukturentwicklung von Ti-6Al-4V beim selektiven Laserschmelzen wird, mit einem Multi-Phasen- und Orientierungsfeld zur Beschreibung der Kinetik der Phasenumwandlung und des Wachstums einzelner Kristallite, simuliert. Zur Modellreduktion werden Annahmen, basierend auf Ergebnissen der Werkstoffcharakterisierung mit Auflichtmikroskopie, röntgendiffraktometrischen Untersuchungen sowie energie- und wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie, verwendet, wodurch dern Rechenaufwand sinkt.
- Translated abstract:
- The Microstructure evolution of Ti-6Al-4V in selective laser melting is simulated using a multi-phase field and an orientation field describing the kinetics of phase transformation and the growth of single crystallites. Assumptions based on materials characterization like light microscopy, X-ray diffractometry, and energy and wavelength dispersive X-ray spectroscopy are used to reduce model complexity, thereby reducing the computational burden.
- Series:
- Materialwissenschaften
- ISBN:
- 978-3-8439-3814-3
- WWW:
- https://mediatum.ub.tum.de/?id=1432362
- Date of submission:
- 23.01.2018
- Oral examination:
- 19.09.2018
- Last change:
- 05.02.2019
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