Reflectron Time-of-Flight Mass-Spectrometry and Laser Excitation for the Analysis of Neutrals, Ionized Molecules and Secondary Fragments

Titel:: Reflectron Time-of-Flight Mass-Spectrometry and Laser Excitation for the Analysis of Neutrals, Ionized Molecules and Secondary Fragments
Dokumenttyp:: Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):: Boesl, U.; Weinkauf, R.; Schlag, E.W.
Zeitschriftentitel:: International Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes
Jahr:: 1992
Band / Volume:: 112
Seitenangaben Beitrag:: 121-166
Sprache:: en
Eingabe:: 28.07.2008
Letzte Änderung:: 28.07.2008
BibTeX