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- Original title:
- Position Resolved Neutron Depth Profiling with the N4DP Instrument
- Translated title:
- Ortsaufgelöste Neutronentiefenprofilanalyse mit dem N4DP-Instrument
- Author:
- Neagu, Robert
- Year:
- 2024
- Document type:
- Dissertation
- Faculty/School:
- TUM School of Natural Sciences
- Institution:
- Professur für Elementarteilchenphysik bei niedrigen Energien (Prof. Märkisch)
- Advisor:
- Märkisch, Bastian (Prof. Dr.)
- Referee:
- Märkisch, Bastian (Prof. Dr.); Mertens, Susanne (Prof. Dr.)
- Language:
- en
- Subject group:
- PHY Physik
- Keywords:
- NDP ; DSSSD ; N4DP
- TUM classification:
- PHY 400
- Abstract:
- Neutron depth profile analysis is a method for the high-precision determination of concentration profiles of certain nuclides in near-surface layers. For an extension to 3D profiling, a detector system based on double-sided silicon strip detectors with a thin and homogeneous dead layer was developed and characterised. The combination of the detectors with application-specific integrated circuits enables profiling at the highest rates.
- Translated abstract:
- Die Neutronentiefenprofilanalyse ist eine Methode zur hochpräzisen Bestimmung von Konzentrationsprofilen bestimmter Nuklide in oberflächennahen Schichten. Für eine Erweiterung auf 3D-Profilierung wurde ein Detektorsystem basierend auf doppelseitigen Silizium-Streifen-Detektoren mit einer dünnen und homogenen Totschicht entwickelt und charakterisiert. Die Kombination der Detektoren mit anwendungsspezifischen integrierten Schaltkreisen ermöglicht die Profilerstellung bei höchsten Raten.
- WWW:
- https://mediatum.ub.tum.de/?id=1759998
- Date of submission:
- 04.11.2024
- Oral examination:
- 13.12.2024
- File size:
- 25384597 bytes
- Pages:
- 128
- Urn (citeable URL):
- https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss-20241213-1759998-0-4
- Last change:
- 16.01.2025
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