Extension and Limits of Depolarization-Fringe Contrast Roughness Method in Sub-Micron Domain

Titel:: Extension and Limits of Depolarization-Fringe Contrast Roughness Method in Sub-Micron Domain
Dokumenttyp:: Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):: Pöller, Franziska; Salazar Bloise, Félix; Jakobi, Martin; Dong, Jie; Koch, Alexander W.
Zeitschriftentitel:: Sensors
Jahr:: 2021
Band / Volume:: 21
Heft / Issue:: 16
Seitenangaben Beitrag:: 5572
Volltext / DOI:: doi:10.3390/s21165572
Verlag / Institution:: MDPI AG
E-ISSN:: 1424-8220
Publikationsdatum:: 19.08.2021
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