Measurement of branching fractions of Λc+→ηΛπ+ , ηΣ0π+ , Λ(1670)π+ , and ηΣ(1385)+

Lee, J. Y.; Tanida, K.; Kato, Y.; Kim, S. K.; Yang, S. B.; Adachi, I.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Beleño, C.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bračko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Červenkov, D.; Chang, M.-C.; Chang, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; De Nardo, G.; Di Capua, F.; Doležal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Hadjivasiliou, C.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Hernandez Villanueva, M.; Hsu, C.-L.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jacobs, W. W.; Jang, E.-J.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, C. W.; Joo, K. K.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, B. H.; Kim, D. Y.; Kim, K.-H.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kim, Y. J.; Kim, Y.-K.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Križan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lee, S. C.; Li, C. H.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liptak, Z.; Liventsev, D.; Luo, T.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, T. J.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakano, T.; Nakao, M.; Natochii, A.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Olsen, S. L.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, S.-H.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seidl, R.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Shebalin, V.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stanič, S.; Starič, M.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uglov, T.; Uno, S.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vorobyev, V.; Vossen, A.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Wehle, S.; Wiechczynski, J.; Xu, X.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Ye, H.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.     «

Lee, J. Y.; Tanida, K.; Kato, Y.; Kim, S. K.; Yang, S. B.; Adachi, I.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Beleño, C.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bračko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Červenkov, D.; Chang, M.-C.; Chang, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.;...     »