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Titel:

Virtual Testing of High Power Devices at the Rim of the Safe Operating Area and Beyond

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Wachutka, G.
Seitenangaben Beitrag:
6-11
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the 26th International Symposium on PowerSemiconductor Devices & IC´s
Kongress / Zusatzinformationen:
ISPSD´14 - June 15-19, 2014 Waikoloa, Hawaii, USA
Verlag / Institution:
IEEE
Jahr:
2014
Print-ISBN:
978-1-4799-2917-7
Reviewed:
ja
Sprache:
en
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