Benutzer: Gast  Login
Titel:

Modeling Reliability Issues in RF MEMS Switches

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Art des Konferenzbeitrags:
Vortrag / Präsentation
Autor(en):
Schrag, G.; Künzig, T.; Wachutka, G.
Seitenangaben Beitrag:
pp 432-435
Herausgeber:
IEEE
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices
Kongress / Zusatzinformationen:
SISPAD 2013, September 3-5, Glasgow, Scotland, UK
Jahr:
2013
Sprache:
en
 BibTeX