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- Titel:
Modeling Reliability Issues in RF MEMS Switches
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Art des Konferenzbeitrags:
- Vortrag / Präsentation
- Autor(en):
- Schrag, G.; Künzig, T.; Wachutka, G.
- Seitenangaben Beitrag:
- pp 432-435
- Herausgeber:
- IEEE
- Kongress- / Buchtitel:
- Proceedings of the International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices
- Kongress / Zusatzinformationen:
- SISPAD 2013, September 3-5, Glasgow, Scotland, UK
- Jahr:
- 2013
- Sprache:
- en
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