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Titel:
Empirical modeling of the refractive index for (AlGaIn)As lattice matched to InP
Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Grasse, C., Böhm, G., Müller, M., Gründl, T., Meyer, R., Amann, M. C.
Zeitschriftentitel:
Semiconductor science and technology
Jahr:
2010
Jahr / Monat:
2010-03
Quartal:
1. Quartal
Monat:
Mar
Heft / Issue:
25/4
Reviewed:
ja
Sprache:
en
Volltext / DOI:
doi:doi:10.1088/0268-1242/25/4/045018
WWW:
http://iopscience.iop.org/0268-1242/25/4/045018/
Status:
published (reviewed)
Semester:
SS 02
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Halbleitertechnologie (E26)
Format:
Text
BibTeX
Vorkommen:
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