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Titel:
Einfluß von Negative und Positive Bias Temperature Stress auf 6T-SRAM Zellen
Autor(en):
Drapatz, S.; Georgakos, G.; Schmitt-Landsiedel, D.
Kongress- / Buchtitel:
Kleinheubacher Tagung
Jahr:
2008
Monat:
sep
BibTeX
Vorkommen:
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Einrichtungen
Schools
TUM School of Computation, Information and Technology
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