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Title:
Impact of On-Chip Inductance on Power Supply Integrity
Author(s):
Eireiner, M.; Henzler, S.; Zhang, X.; Berthold, J.; Schmitt-Landsiedel, D.
Journal title:
Advances in Radio Science
Year:
2008
Journal volume:
6
Pages contribution:
227-232
Language:
english
Fulltext / DOI:
doi:10.5194/ars-6-227-2008
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