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- Titel:
A 65nm test structure for the analysis of NBTI induced statistical variation in SRAM transistors
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Fischer, Thomas; Amirante, Ettore; Hofmann, Karl; Ostermayr, Martin; Huber, Peter; Schmitt-Landsiedel, Doris
- Zeitschriftentitel:
- Proc. of ESSDERC
- Jahr:
- 2008
- Seitenangaben Beitrag:
- 51-54
- Sprache:
- de
- TUM Einrichtung:
- Lehrstuhl für Technische Elektronik
- Format:
- Text
BibTeX