Seidl, R.; Adachi, I.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Behera, P.; Beleño, C.; Berger, M.; Bhardwaj, V.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Cao, L.; Červenkov, D.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Di Carlo, S.; Doležal, Z.; Dong, T. V.; Drásal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gelb, M.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Grzymkowska, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W.-S.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kaliyar, A. B.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kim, S. H.; Kodyš, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Križan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, J. K.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; Levit, D.; Li, C. H.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Liventsev, D.; Lubej, M.; Luo, T.; MacNaughton, J.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, S.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakano, T.; Nakao, M.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pardi, S.; Park, S.-H.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Prencipe, E.; Purohit, M. V.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shen, C. P.; Shibata, T.-A.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Starič, M.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Vossen, A.; Waheed, E.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanabe, M.; Won, E.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.
«
Seidl, R.; Adachi, I.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Behera, P.; Beleño, C.; Berger, M.; Bhardwaj, V.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Cao, L.; Červenkov, D.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Di Carlo, S.; Doležal, Z.; Dong, T. V.; Drásal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Ga...
»
Login
BibTeX