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Titel:

AFM tip characterization by Kelvin probe force microscopy

Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Barth, C; Hynninen, T; Bieletzki, M; Henry, C R; Foster, A S; Esch, F; Heiz, U
Zeitschriftentitel:
New Journal of Physics
Jahr:
2010
Band / Volume:
12
Heft / Issue:
9
Seitenangaben Beitrag:
093024
Volltext / DOI:
doi:10.1088/1367-2630/12/9/093024
Verlag / Institution:
IOP Publishing
E-ISSN:
1367-2630
Publikationsdatum:
15.09.2010
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