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Dokumenttyp:
Diagramm
Titel:
Entwicklung der Integrationsdichte und der Kosten in der Mikroelektronik
Schlagworte:
Informationstechnik; Elektronik; Kosten
Schlagworte (engl.):
Information technology; Electronics; Costs
Autor/en:
Artmann, R.
Sprache:
de
Farbe:
einfarbig
Thema:
Elektronik
Herkunft:
Institut für Betriebstechnik FAL / Schön
Quelle - Titel:
Siemens AG
Erfassungsjahr:
2004
Zitation:
http://mediatum.ub.tum.de/export/703067/citation