Die Mikrostrukturentwicklung von Ti-6Al-4V beim selektiven Laserschmelzen wird, mit einem Multi-Phasen- und Orientierungsfeld zur Beschreibung der Kinetik der Phasenumwandlung und des Wachstums einzelner Kristallite, simuliert. Zur Modellreduktion werden Annahmen, basierend auf Ergebnissen der Werkstoffcharakterisierung mit Auflichtmikroskopie, röntgendiffraktometrischen Untersuchungen sowie energie- und wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie, verwendet, wodurch dern Rechenaufwand sinkt.
Übersetzte Kurzfassung:
The Microstructure evolution of Ti-6Al-4V in selective laser melting is simulated using a multi-phase field and an orientation field describing the kinetics of phase transformation and the growth of single crystallites. Assumptions based on materials characterization like light microscopy, X-ray diffractometry, and energy and wavelength dispersive X-ray spectroscopy are used to reduce model complexity, thereby reducing the computational burden.