Der Prozess der lokalen Ertragsermittlung ist einer Reihe von Fehlereinflüssen unterworfen. In der vorliegenden Arbeit wurden die Fehlergrößen teils experimentell und teils durch Ertragsdatenanalyse quantifiziert. Die zu erwartenden Fehler pro Messpunkt liegen deutlich über +-10% (1 s-Bereich). Auf dieser Grundlage wurde ein Ertragsdatenbereinigungsalgorithmus entwickelt und getestet. Der verbleibende Restfehler liegt maximal bei +- 10%. Dies erlaubt eine Auflösung bei der Kartierung von 15 m Rastergröße. Dabei sollte eine Klassenbreite von 10% relativ zum Ertragsmittel des Schlages nicht unterschritten werden.     «

Der Prozess der lokalen Ertragsermittlung ist einer Reihe von Fehlereinflüssen unterworfen. In der vorliegenden Arbeit wurden die Fehlergrößen teils experimentell und teils durch Ertragsdatenanalyse quantifiziert. Die zu erwartenden Fehler pro Messpunkt liegen deutlich über +-10% (1 s-Bereich). Auf dieser Grundlage wurde ein Ertragsdatenbereinigungsalgorithmus entwickelt und getestet. Der verbleibende Restfehler liegt maximal bei +- 10%. Dies erlaubt eine Auflösung bei der Kartierung von 15 m Ra...     »

The process of local yield detection is subject to a series of falsifying factors. In the respective thesis these factors were quantified partially experimentally and partially by yield data analysis. The errors related to any measuring site are in the range of substantially more than +-10% (1 s-range). On this basis an algorithm for yield data correction was developed and tested. The remaining error is nearly +-10% in maximum. Therefore, a resolution in yield mapping of 15 m grid size is admissible. However, the yield class width should not fall below 10% related to the yield average of the field.     «

The process of local yield detection is subject to a series of falsifying factors. In the respective thesis these factors were quantified partially experimentally and partially by yield data analysis. The errors related to any measuring site are in the range of substantially more than +-10% (1 s-range). On this basis an algorithm for yield data correction was developed and tested. The remaining error is nearly +-10% in maximum. Therefore, a resolution in yield mapping of 15 m grid size is admiss...     »