Der industrielle Einsatz der Speckleinterferometrie zur dreidimensionalen Formvermessung wird bisher durch lange Mess- und Rechenzeiten erschwert. Um eine Echtzeitauswertung zu erreichen, werden zunächst die Phasenbildberechnung und deren anschließende Entfaltung untersucht. Dazu werden Algorithmen entwickelt und in VHDL auf FPGAs realisiert. Danach erfolgt die Modifizierung eines Speckle-Interferometers derart, dass es mit geschalteten Laserdioden ohne bewegte Verschlusseinrichtungen arbeitet. Die eingesetzten Laserdioden werden dazu direkt im System auf Stabilität und Wellenlänge vermessen, so dass diese Parameter stets bekannt sind. Im Ergebnis dient das Zwei-Wellenlängen-Speckleinterferometer zur Vermessung von dreidimensionalen Objekten mit einer Auflösung von 1280 x 1024 Pixeln und mittleren Verarbeitungsrate von 23 Bildern pro Sekunde.
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Der industrielle Einsatz der Speckleinterferometrie zur dreidimensionalen Formvermessung wird bisher durch lange Mess- und Rechenzeiten erschwert. Um eine Echtzeitauswertung zu erreichen, werden zunächst die Phasenbildberechnung und deren anschließende Entfaltung untersucht. Dazu werden Algorithmen entwickelt und in VHDL auf FPGAs realisiert. Danach erfolgt die Modifizierung eines Speckle-Interferometers derart, dass es mit geschalteten Laserdioden ohne bewegte Verschlusseinrichtungen arbeitet....
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