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Titel:

Void-growing: a novel Scan-to-BIM method for manhattan world buildings from point cloud

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Pan, Yuandong; Braun, Alex; Borrmann, André; Brilakis, Ioannis
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the 2021 European Conference on Computing in Construction
Verlag / Institution:
University College Dublin
Publikationsdatum:
26.07.2021
Jahr:
2021
Volltext / DOI:
doi:10.35490/ec3.2021.162
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