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Document type:
Patentanmeldung 
Patent application number:
DE 10 2020 XXX XXX.X 
Inventor:
Dong, Xingchen 
Title:
Hyperspektrales Abbildungsmikroskopie-Linienscanverfahren zur schnellen, großflächigen Dickenabbildung von zweidimensionalen Materialien 
Patent office:
Germany 
Date of application:
24.03.2020 
Year:
2020