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- Dokumenttyp:
- Patentanmeldung
- Patentanmeldung Nr.:
- DE 10 2020 XXX XXX.X
- Erfinder:
- Dong, Xingchen
- Titel:
- Hyperspektrales Abbildungsmikroskopie-Linienscanverfahren zur schnellen, großflächigen Dickenabbildung von zweidimensionalen Materialien
- Anmeldeland:
- Germany
- Datum der Patentanmeldung:
- 24.03.2020
- Jahr:
- 2020
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