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- Titel:
Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines Rotationswinkels und einer Rotationsrichtung eines Objektes mittels räumlicher Phasenschiebe-Speckle-Interferometrie
- Dokumenttyp:
- Patentanmeldung
- Patentanmeldung Nr.:
- DE 10 2017 002 419.7
- Erfinder:
- Lu, M.
- Patentanmelder:
- Lu, M.
- Anmeldeland:
- Deutschland
- Anmeldenummer:
- DE 10 2017 002 419.7
- Datum der Patentanmeldung:
- 14.03.2017
- Jahr:
- 2017
- Sprache:
- de
- TUM Einrichtung:
- Lehrstuhl für Messsystem- und Sensortechnik
- Format:
- Text
- Eingabe:
- 04.01.2018
- Letzte Änderung:
- 08.02.2018
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