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Titel:

Schichtmessverfahren und Messvorrichtung

Dokumenttyp:
Patent
Patent, Gebrauchsmuster Nr.:
DE 10 2010 016 462 B4
Erfinder:
Hirth, F.; Buck, T.C.
Patentanmelder:
Hirth, F.; Buck, T.C.
Anmeldeland:
Deutschland
Veröffentlichungsdatum / Patent:
16.07.2015
Jahr:
2015
WWW:
https://depatisnet.dpma.de/DepatisNet/depatisnet?window=1&space=menu&content=treffer&action=pdf&docid=DE102010016462B4
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Messsystem- und Sensortechnik
Format:
Text
 BibTeX