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- Title:
Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines Rotationswinkels und einer Rotationsrichtung eines Objektes mittels räumlicher Phasenschiebe-Speckle-Interferometrie
- Document type:
- Patentanmeldung
- Patent application number:
- DE 10 2017 002 419.7
- Inventor:
- Lu, M.
- Assignee:
- Lu, M.
- Patent office:
- Deutschland
- Application number:
- DE 10 2017 002 419.7
- Date of application:
- 14.03.2017
- Year:
- 2017
- Language:
- de
- TUM Institution:
- Lehrstuhl für Messsystem- und Sensortechnik
- Format:
- Text
- Ingested:
- 04.01.2018
- Last change:
- 08.02.2018
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