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Technische Universität München
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Title:
Schichtmessverfahren und Messvorrichtung
Document type:
Patent
Patent number:
DE 10 2010 016 462 B4
Inventor:
Hirth, F.; Buck, T.C.
Assignee:
Hirth, F.; Buck, T.C.
Patent office:
Deutschland
Publication date patent:
16.07.2015
Year:
2015
WWW:
https://depatisnet.dpma.de/DepatisNet/depatisnet?window=1&space=menu&content=treffer&action=pdf&docid=DE102010016462B4
TUM Institution:
Lehrstuhl für Messsystem- und Sensortechnik
Format:
Text
BibTeX
Occurrences:
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Einrichtungen
Schools
TUM School of Computation, Information and Technology
Departments
Electrical Engineering
Messsystem- und Sensortechnik (Prof. Koch)
Patente
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Hochschulbibliographie
2015
Fakultäten
Elektrotechnik und Informationstechnik
Lehrstuhl für Meßsystem- und Sensortechnik (Prof. Koch)