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Document type:
Bachelorarbeit
Author(s):
Michael Berghold
Title:
Direct imaging of high-intensity positron beams with CMOS sensors
Translated title:
Direkte Abbildung von Positronenstrahlen hoher Intensität mit CMOS sensoren
Abstract:
A whole range of powerful techniques available to material scientists today employ the use of positions. Most modern positron-based techniques require the production of a focused low-energy beam. Of fundamental importance to achieve a sharply focused positron beam is the ability to measure the beam’s cross section at the desired focal point. Since determining the optimal currents and voltages to be applied to the focusing elements is an iterative process steered by optimizing algorithms, the...     »
Translated abstract:
Eine Vielzahl von Analyseverfahren in der modernen Festkörperphysik beruht auf dem Einsatz von Positronen als Sonden. Die meisten dieser Methoden erfordern die Kollimation der Positronen in einen fokussierten, niedrigenergetischen Teilchenstrahl. Für die Erzeugung eines fokussierten Positronenstrahls ist die Erfassung des Strahlquerschnitts in der gewünschten Zielebene essenziell. Da das Einstellen der optimalen Ströme und Spannungen an den diversen Fokussierelementen einen iterativen Prozess...     »
Subject:
PHY Physik
DDC:
530 Physik
Advisor:
Guatieri, Francesco (Ph.D)
Referee:
Neu, Rudolf (Prof. Dr.)
Date of acceptation:
22.11.2022
Year:
2022
Language:
en
Language from translation:
de
University:
Technische Universität München
Faculty:
TUM School of Engineering and Design
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