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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Autor(en):
Wane, S.; Bajon, D.; Lesenechal, D.; Russer, J.A.; Thomas, D.; Russer, P. 
Titel:
Multi-Probe Near-Field Measurement of Stochastic Noisy Radiations: Perspectives for Chip-Package (LNA}-Probe Co-Design 
Kongress- / Buchtitel:
Proc. European Microwave Conference (EuMC) 2016-10 
Kongress / Zusatzinformationen:
London, United Kingdom, 03-07 Oct 2016 
Jahr:
2016 
Quartal:
4. Quartal 
Jahr / Monat:
2016-10 
Monat:
Oct 
Reviewed:
ja 
Sprache:
en