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Autor(en):
Dressel, Wolfgang; Mangold, Tobias; Vietzorreck, Larissa; Russer, Peter 
Titel:
Time Domain Characterization of Multichip Module Elements 
Kongress- / Buchtitel:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium 
Band / Teilband / Volume:
Verlagsort:
Phoenix, AZ, USA 
Jahr:
2001 
Monat:
may 
Seiten:
1033--1036