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Autor(en):
di Paola, A.; Olbrich, Gerhard R. 
Titel:
Measurement and VBIC Parameter Extraction of SiGe-Transistors 
Kongress- / Buchtitel:
11th Conference and Exhibition on Microwaves, Radio Communication and Electromagnetic Compatibility (MIOP) 
Verlagsort:
Stuttgart, Germany 
Jahr:
2001 
Monat:
may 
Seiten:
260--262