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Autor(en):
Olbrich, Gerhard R. 
Titel:
Characterization of Low and High Frequency Noise in Active Devices 
Kongress- / Buchtitel:
5th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f-Fluctuations 
Verlagsort:
Hong Kong 
Jahr:
1999 
Monat:
aug 
Seiten:
25--30