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Autor(en):
Olbrich, Gerhard R.
Titel:
Characterization of Low and High Frequency Noise in Active Devices
Kongress- / Buchtitel:
5th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f-Fluctuations
Verlagsort:
Hong Kong
Jahr:
1999
Monat:
aug
Seiten:
25--30
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