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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Autor(en):
Künzig, T.; Muschol, T.; Iannacci, J.; Schrag, G.; Wachutka, G. 
Titel:
Analysis of RF-MEMS Switches in Failure Mode: Towards a More Robust Design 
Herausgeber:
IEEE 
Kongress- / Buchtitel:
15th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems 
Kongress / Zusatzinformationen:
EuroSimE 2014 
Konferenzort:
Gent, Belgium 
Datum der Konferenz:
April, 7-9 
Jahr:
2014 
E-ISBN:
978-1-4799-4790-4 
Reviewed:
ja 
Sprache:
en