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- Autor(en):
- OSSADNIK, C; VEPREK, S; GREGORA, I
- Titel:
- Applicability of Raman scattering for the characterization of nanocrystalline silicon
- Zeitschriftentitel:
- THIN SOLID FILMS
- Jahr:
- 1999
- Band / Volume:
- 337
- Heft / Issue:
- 1-2
- Seitenangaben Beitrag:
- 148-151
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