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Autor(en):
Fischer, T.; Amirante, E.; Hofmann, K.; Ostermayr, M.; Huber, B.; Schmitt-Landsiedel, D. 
Titel:
Test structures for SRAM cell and device variability and the �statistics of NBTI degradation 
Kongress- / Buchtitel:
Workshop on Variation Test Structures at ICCAD 
Jahr:
2008 
Monat:
13. Nov.