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Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz 
Autor(en):
Fischer, Thomas; Amirante, Ettore; Huber, Peter; Nirschl, Thomas; Olbrich, Alexander; Ostermayr, Martin; Schmitt-Landsiedel, Doris 
Titel:
Analysis of read current and write trip voltage variability from a 1 MBit SRAM test structure 
Zeitschriftentitel:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 
Jahr:
2008 
Band / Volume:
21 
Heft / Issue:
Sprache:
en 
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Technische Elektronik 
Format:
Text