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- Titel:
Analysis of read current and write trip voltage variability from a 1 MBit SRAM test structure
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Fischer, Thomas; Amirante, Ettore; Huber, Peter; Nirschl, Thomas; Olbrich, Alexander; Ostermayr, Martin; Schmitt-Landsiedel, Doris
- Zeitschriftentitel:
- IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
- Jahr:
- 2008
- Band / Volume:
- 21
- Heft / Issue:
- 4
- Sprache:
- en
- TUM Einrichtung:
- Lehrstuhl für Technische Elektronik
- Format:
- Text
BibTeX