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Originaltitel:
X-Ray Microanalysis with Transition Edge Sensors 
Originaluntertitel:
The Future of Material Analysis with Scanning Electron Microscopes 
Übersetzter Titel:
Röntgenmikroanalyse mit Phasenübergangsthermometern 
Übersetzter Untertitel:
Die Zukunft der Materialanalyse mit Rasterelektronenmikroskopen 
Jahr:
2006 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Physik 
Betreuer:
von Feilitzsch, Franz (Prof. Dr.) 
Gutachter:
Krücken, Reiner (Prof. Dr.) 
Format:
Text 
Sprache:
en 
Fachgebiet:
PHY Physik 
Stichworte:
Material analysis; EDS; low temperature detectors; TES; microcalorimeter; Scanning electron microscope 
Übersetzte Stichworte:
Materialanalyse; EDX; Tieftemperaturdetektoren; TES; Mikrokalorimeter; Rasterelektronenmikroskop 
Kurzfassung:
In current experiments and technical applications the demand for new and advanced concepts for the detection of radiation and particle is increasing. Low temperature detectors such as Transition Edge Sensors (TES) have been developed as ultrahigh-resolution radiation and particle detectors offering advantages in manifold applications. They were designed primarily for astrophysical experiments such as the dark matter search. In material analysis they have been introduced to revolutionize mass spe...    »
 
Übersetzte Kurzfassung:
In zeitgenössischen Experimenten and technischen Anwendungen steigt der Bedarf an neuen und fortgeschrittenen Detektoren für den Nachweis von Strahlung und Teilchen. Tieftemperaturdetektoren wie Transition Edge Sensors (TES) wurden als ultrahoch-auflösende Strahlungs- und Teilchendetektoren entwickelt und bieten vielerlei Anwendungen. Primär wurden sie allerdings für Experimente in der Astro-Teilchenphysik entwickelt, wie z.B. die Suche nach Dunkler Materie. In der Materialanalyse wurden sie ein...    »
 
Veröffentlichung:
Universitätsbibliothek der Technischen Universität München 
Mündliche Prüfung:
06.07.2006 
Dateigröße:
3313845 bytes 
Seiten:
121 
Letzte Änderung:
28.08.2007