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Original title:
Kapazitives Messsystem zur Charakterisierung von planaren elektronischen Strukturen 
Translated title:
Capacitive measurement system for characterization of planar electronic structures 
Year:
2014 
Document type:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Advisor:
Koch, Alexander W. (Prof. Dr. habil. Dr. h.c.) 
Referee:
Koch, Alexander W. (Prof. Dr. habil. Dr. h.c.); Eibert, Thomas (Prof. Dr.) 
Language:
de 
Subject group:
ELT Elektrotechnik; MSR Meßtechnik, Steuerungs- und Regelungstechnik, Automation 
TUM classification:
MSR 050d 
Abstract:
Zentrales Thema der Arbeit ist ein kapazitives Inspektions- und Messsystem für planare elektrische Strukturen. Dieses System ermöglicht eine bildgebende Messung zur Struktur- und Funktionsinspektion, sowie eine berührungslose Spannungsmessung. Im Rahmen der Arbeit wird hierzu die dem Messsystem zu Grunde liegende Theorie erarbeitet, sowie das Messsystem aufgebaut, charakterisiert und validiert. Ferner wird ein Messansatz zur simultanen Messung von zwei unabhängigen Messgrößen erarbeitet und eval...    »
 
Translated abstract:
The central subject of this work is a capacitive inspection and measurement system for planar electrical structures. This system features an imaging measurement mode for structural and functional inspection, as well as a contactless voltage measurement mode. In this thesis, the theory of this measurement system is elaborated. The measurement system is implemented, characterized and validated. Furthermore, a measurement approach for simultaneous acquisition of two independent measurement values i...    »
 
Series:
Reports on measurement and sensor systems 
ISBN:
978-3-8440-3458-5 
Oral examination:
16.07.2014 
Last change:
21.05.2015 
versions