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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Art des Konferenzbeitrags:
Poster
Autor(en):
Kienle, P.; Nallar, E.; Köhler, M.H.; Jakobi, M.; Koch, A.W.
Titel:
Analysis of sub-pixel laser spot detection in laser triangulation systems
Kongress- / Buchtitel:
SPIE Optical Metrology
Ausrichter der Konferenz:
SPIE Optical Metrology
Datum der Konferenz:
24.06. bis 27.06.2019
Jahr:
2019
Volltext / DOI:
doi:10.1117/12.2525669
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