Pischon, T.; Boeing, H.; Hoffmann, K.; Bergmann, M.; Schulze, M.B.; Overvad, K.; van der Schouw, Y.T.; Spencer, E.; Moons, K.G.M.; Tjønneland, A.; Halkjaer, J.; Jensen, M.K.; Stegger, J.; Clavel-Chapelon, F.; Boutron-Ruault, M.-C.; Chajes, V.; Linseisen, J.; Kaaks, R.; Trichopoulou, A.; Trichopoulos, D.; Bamia, C.; Sieri, S.; Palli, D.; Tumino, R.; Vineis, P.; Panico, S.; Peeters, P.H.M.; May, A.M.; Bueno-de-Mesquita, H.B.; van Duijnhoven, F.J.B.; Hallmans, G.; Weinehall, L.; Manjer, J.; Hedblad, B.; Lund, E.; Agudo, A.; Arriola, L.; Barricarte, A.; Navarro, C.; Martinez, C.; Quirós, J.R.; Key, T.; Bingham, S.; Khaw, K.T.; Boffetta, P.; Jenab, M.; Ferrari, P.; Riboli, E.     «

Pischon, T.; Boeing, H.; Hoffmann, K.; Bergmann, M.; Schulze, M.B.; Overvad, K.; van der Schouw, Y.T.; Spencer, E.; Moons, K.G.M.; Tjønneland, A.; Halkjaer, J.; Jensen, M.K.; Stegger, J.; Clavel-Chapelon, F.; Boutron-Ruault, M.-C.; Chajes, V.; Linseisen, J.; Kaaks, R.; Trichopoulou, A.; Trichopoulos, D.; Bamia, C.; Sieri, S.; Palli, D.; Tumino, R.; Vineis, P.; Panico, S.; Peeters, P.H.M.; May, A.M.; Bueno-de-Mesquita, H.B.; van Duijnhoven, F.J.B.; Hallmans, G.; Weinehall, L.; Manjer, J.; Hedblad...     »