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Autor(en):
Aryan, Nasim Pour; Listl, Alexandra; Heiss, Leonhard; Yilmaz, Cenk; Georgakos, Georg; Schmitt-Landsiedel, Doris 
Titel:
From an Analytic NBTI Device Model to Reliability Assessment of Complex Digital Circuits 
Kongress- / Buchtitel:
20th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS) 
Jahr:
2014 
Seiten:
19--24