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- Autor(en):
- ZHANG, R. F.; ARGON, A. S.; VEPREK, S.
- Titel:
- Understanding why the thinnest SiNx interface in transition-metal nitrides is stronger than the ideal bulk crystal
- Zeitschriftentitel:
- PHYSICAL REVIEW B
- Jahr:
- 2010
- Band / Volume:
- 81
- Heft / Issue:
- 24
- Volltext / DOI:
- doi:10.1103/PhysRevB.81.245418
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