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Dokumenttyp:
Kartierung 
Titel:
Yield patterns Scheyern "Eulenwies" 1994 und 1996 
Schlagworte:
Precision Farming; Informationstechnik; Datenerfassung; Globales Positionierungssystem; Ertrag; Ertragssensor; Ertragsmessung; Ertragskartierung 
Schlagworte (engl.):
Precision Farming; Information technology; Data acquisition; Global Positioning System; Yield; Yield sensor; Yield detection; Yield mapping 
Autor/en:
Auernhammer, H. 
Jahr:
2006 
Genaues Erstellungsdatum:
21.04.2006 
Sprache:
en 
Farbe:
schwarzweiß 
Zeichner:
Berchtold, M. 
Herkunft:
Lehrstuhl für Agrarsystemtechnik TUM / Zeichenbüro 
Erfassungsjahr:
2009