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Original title:
Chromosomal location and molecular mapping of tan spot resistance genes in common wheat (T. aestivum L.) 
Translated title:
Chromosomen-Lokalisierung und molekulare Kartierung von Resistenzgenen gegen DTR-Blattflecken in Weizen (T. aestivum L.) 
Year:
2007 
Document type:
Dissertation 
Institution:
Fakultät Wissenschaftszentrum Weihenstephan 
Advisor:
Zeller, F.J. (Prof. Dr.) 
Referee:
Wenzel, Gerhard (Prof. Dr. Dr. habil.) 
Language:
en 
Subject group:
LAN Landbauwissenschaft 
Controlled terms:
Weizen; Weizenblattdürre; Resistenzgen; Genkartierung 
TUM classification:
LAN 220d; BIO 450d 
Abstract:
In this study, 75 cultivars highly resistant to tan spot were identified. A positive correlation (r = 0.864; P = 0.001) was found between seedling resistance and adult plant resistance. Inheritance of tan spot resistance was found to be qualitative goverened by single major genes. Three novel resistance genes: tsn3, tsn4 and tsn5 were identified and located on chromosomes 3D, 3A and 3B, respectively. Linkage analysis using SSR markers showed that both the tsn3 (tsn3a, Tsn3b and tsn3c) and tsn4...    »
 
Translated abstract:
In der vorliegenden Arbeit wurden 75 Weizensorten, die hohe Resistenz gegenüber der DTR-Weizenblattdürre besitzen, identifiziert. Zwischen Keimlings- und Feldresistenz wurde eine positive Korrelation (r = 0.864; P = 0.001) nachgewiesen. Die Resistenz wird qualitativ vererbt und lässt sich auf wenige Gene zurückführen. Drei neue Resistenzgene: tsn3, tsn4 bzw. tsn5 wurden identifiziert und den Chromosomen 3D, 3A bzw. 3B zugeordnet. Kopplungsanalysen unter Verwendung von SSR- Markern haben gezeigt...    »
 
Oral examination:
10.08.2007 
Pages:
113 
Last change:
28.04.2008