Benutzer: Gast  Login
Originaltitel:
Polarimetrie von Parametrischer Röntgenstrahlung sowie Entwicklung eines Compton-Polarimeters für niederenergetische Röntgenstrahlung 
Übersetzter Titel:
Polarimetry of Parametric X-radiation and development of a Compton polarimeter for low energetic X-radiation 
Jahr:
2003 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Physik 
Betreuer:
Kotthaus, Rainer (Priv.-Doz. Dr.) 
Gutachter:
Kotthaus, Rainer (Priv.-Doz. Dr.); Körner, Hans-Joachim (Prof. Dr.) 
Format:
Text 
Sprache:
de 
Fachgebiet:
MSR Meßtechnik, Steuerungs- und Regelungstechnik, Automation; PHY Physik 
Stichworte:
Röntgenpolarimetrie; Compton-Polarimeter; Silizium-Drift-Detektor; Halbleiter-Drift-Kammer; Parametrische Röntgenstrahlung; PXR 
Übersetzte Stichworte:
X-ray polarimetry; Compton polarimeter; silicon drift detector; semiconductor drift chamber; Parametric X-radiation; PXR 
TU-Systematik:
MSR 372d; PHY 110d 
Kurzfassung:
Zur Messung der Linearpolarisation von Parametrischer Röntgenstrahlung (PXR) wurde ein Compton-Polarimeter entwickelt, gebaut und getestet, das bei Photonenener- gien < 5 keV hohe Analysierstärke besitzt. Die Eigen- schaften wurden mit numerischen und analytischen Ver- fahren untersucht und so optimiert, dass der statisti- sche Fehler bei gegebener Photonenzahl möglichst klein wird. Es wurde eine PXR-Polarisationsmessung durchge- führt und auf mögliche Untergrundbeiträge hin unter- sucht. Dabei konnte festgestellt werden, dass sich die beobachteten Abweichungen zwischen der gemessenen und der für PXR vorhergesagten Polarisation durch Unter- grundbeiträge erklären lassen. Damit wurde gezeigt, dass PXR auch im Bereich niedriger Intensität das er- wartete Polarisationsverhalten aufweist. 
Übersetzte Kurzfassung:
In order to measure the linear polarization of Parametric X-radiation (PXR) a Compton polarimeter with high analyzing power at photon energies < 5 keV was developed, built and tested. The characteristics were tested with different numerical and analytical methods. They were optimized so that the statistical error in given photon figures will be as small as possible. A PXR polarization measurement was taken and analysed in possible background contributions. It was shown that the observed differences between the measured and for the PXR predicted polarization can be explained through background contributions. In this way, it was proved that PXR shows the expected polarization behaviour even in the low intensity field. 
Veröffentlichung:
Universitätsbibliothek der TU München 
Mündliche Prüfung:
20.02.2003 
Dateigröße:
1562148 bytes 
Seiten:
111 
Letzte Änderung:
21.08.2007