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Originaltitel:
Strahlenhärte von Röntgen-Sperrschicht-CCD-Detektoren 
Übersetzter Titel:
Radiation Hardness of X-ray PN-CCD Detectors 
Jahr:
2003 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Physik 
Betreuer:
Schönfelder, Volker (Prof. Dr.) 
Gutachter:
Schönfelder, Volker (Prof. Dr.); von Feilitzsch, Franz (Prof. Dr.) 
Format:
Text 
Sprache:
de 
Fachgebiet:
PHY Physik 
Stichworte:
pn-CCD; Röntgen-Sperrschicht-CCD; Strahlenhärte; Strahlenschaden; XMM-Newton 
Übersetzte Stichworte:
PN-CCD; radiation damage; radiation hardness; XMM-Newton 
Schlagworte (SWD):
Röntgendetektor; Siliciumdetektor; Ladungsgekoppeltes Bauelement; Strahlenschaden; Astronomiesatellit 
TU-Systematik:
PHY 922d; PHY 406d 
Kurzfassung:
Die Strahlenhärte von pn-CCD-Bauelementen, eines neuartigen Siliziumdetektortyps zur orts- und zeitaufgelösten Spektroskopie von Röntgenphotonen, wurde in verschiedenen Bestrahlungsexperimenten mit Protonen, Alpha-Teilchen und Röntgenphotonen untersucht. Als empfindlichste Größe erwies sich dabei der Signalladungstransferverlust, dessen Zunahme verursacht ist durch bestrahlungserzeugte Störstellen im Siliziumkristallgitter. Seine detaillierte experimentelle Analyse, unterstützt von einem Monte-C...    »
 
Übersetzte Kurzfassung:
The radiation hardness of pn-CCDs, a novel silicon detector type for X-ray spectroscopy with position and time resolution, was studied in various irradiation experiments with protons, alpha-particles and X-rays. The increase of charge transfer loss turned out to be the most sensitive performance parameter. It is caused by the generation of traps in the silicon lattice as a result of irradiation. The detailed experimental analysis, supported by a Monte Carlo simulation model, led to substantial o...    »
 
Veröffentlichung:
Universitätsbibliothek der TU München 
Mündliche Prüfung:
13.05.2003 
Dateigröße:
3579009 bytes 
Seiten:
186 
Letzte Änderung:
21.08.2007