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Original title:
Strahlenhärte von Röntgen-Sperrschicht-CCD-Detektoren 
Translated title:
Radiation Hardness of X-ray PN-CCD Detectors 
Year:
2003 
Document type:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Physik 
Advisor:
Schönfelder, Volker (Prof. Dr.) 
Referee:
Schönfelder, Volker (Prof. Dr.); von Feilitzsch, Franz (Prof. Dr.) 
Format:
Text 
Language:
de 
Subject group:
PHY Physik 
Keywords:
pn-CCD; Röntgen-Sperrschicht-CCD; Strahlenhärte; Strahlenschaden; XMM-Newton 
Translated keywords:
PN-CCD; radiation damage; radiation hardness; XMM-Newton 
Controlled terms:
Röntgendetektor; Siliciumdetektor; Ladungsgekoppeltes Bauelement; Strahlenschaden; Astronomiesatellit 
TUM classification:
PHY 922d; PHY 406d 
Abstract:
Die Strahlenhärte von pn-CCD-Bauelementen, eines neuartigen Siliziumdetektortyps zur orts- und zeitaufgelösten Spektroskopie von Röntgenphotonen, wurde in verschiedenen Bestrahlungsexperimenten mit Protonen, Alpha-Teilchen und Röntgenphotonen untersucht. Als empfindlichste Größe erwies sich dabei der Signalladungstransferverlust, dessen Zunahme verursacht ist durch bestrahlungserzeugte Störstellen im Siliziumkristallgitter. Seine detaillierte experimentelle Analyse, unterstützt von einem Monte-C...    »
 
Translated abstract:
The radiation hardness of pn-CCDs, a novel silicon detector type for X-ray spectroscopy with position and time resolution, was studied in various irradiation experiments with protons, alpha-particles and X-rays. The increase of charge transfer loss turned out to be the most sensitive performance parameter. It is caused by the generation of traps in the silicon lattice as a result of irradiation. The detailed experimental analysis, supported by a Monte Carlo simulation model, led to substantial o...    »
 
Publication :
Universitätsbibliothek der TU München 
Oral examination:
13.05.2003 
File size:
3579009 bytes 
Pages:
186 
Last change:
21.08.2007