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Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Macchi, C.; Somoza, A.; Guimpel, J.; Suárez, S.; Egger, W.; Hugenschmidt, C.; Mariazzi, S.; Brusa, R.S.
Titel:
Oxygen related defects and vacancy clusters identified in sputtering grown UOx thin films by positron annihilation techniques
Zeitschriftentitel:
Results in Physics
Jahr:
2021
Band / Volume:
27
Seitenangaben Beitrag:
104513
Volltext / DOI:
doi:10.1016/j.rinp.2021.104513
Verlag / Institution:
Elsevier BV
E-ISSN:
2211-3797
Publikationsdatum:
01.08.2021
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