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Originaltitel:
Characterization of a novel DePFET based sensor for an ultra-fast Transmission Electron Microscopy application
Übersetzter Titel:
Charakterisierung eines neuartigen DePFET-basierten Sensors zur Anwendung für ultraschnelle Transmissionselektronenmikroskopie
Autor:
Predikaka, Mitja
Jahr:
2022
Dokumenttyp:
Dissertation
Fakultät/School:
Fakultät für Physik
Betreuer:
Bethke, Siegfried (Prof. Dr.)
Gutachter:
Bethke, Siegfried (Prof. Dr.); Oberauer, Lothar (Prof. Dr.)
Sprache:
en
Fachgebiet:
PHY Physik
Stichworte:
DePFET, silicon sensors, solid state detectors, transmission electron microscopy, direct electron detection
TU-Systematik:
PHY 000
Kurzfassung:
The EDET DH80k camera system is being developed for high-intensity real-time real-space imaging of ultra-fast dynamic processes within transmission electron microscopy (TEM). Its 1 Mpixel sensitive array is based on the advanced DePFET technology and this work focuses on the characterization and optimization of the operation parameters. Radiation studies were performed to investigate the scope of damage that TEM electrons cause to DePFET pixels. From them the damage rates were evaluated and afte...     »
Übersetzte Kurzfassung:
Das EDET DH80k Kamerasystem wird für hochintensive, echtzeit, Realraumbildgebung zur Beobachtung von ultraschnellen dynamischen Prozessen an Transmissions Eletronenmikroskopen (TEM) entwickelt. Das 1 MPixel Sensorarray basiert auf der DePFET Technologie. Hauptfokus dieser Arbeit ist die Charakterisierung und Optimierung der Betriebsparameter. Zusätzlich wurden Strahlenhärtetests durchgeführt um die Schädigungsmechanismen genauer zu untersuchen. Die Bestimmten Schädigungsraten wurden genutzt um V...     »
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=1656556
Eingereicht am:
03.05.2022
Mündliche Prüfung:
27.06.2022
Dateigröße:
26240151 bytes
Seiten:
253
Urn (Zitierfähige URL):
https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss-20220627-1656556-1-5
Letzte Änderung:
15.07.2022
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