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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Xiang Lu; Cuili Chen; Al-Greer, Maher; Pickert, Volker; Tsimenidis, Charalampos
Titel:
Signal processing technique for detecting chip temperature of SiC MOSFET devices using high frequency signal injection method
Dewey-Dezimalklassifikation:
620 Ingenieurwissenschaften
Kongress- / Buchtitel:
2017 IEEE 3rd International Future Energy Electronics Conference and ECCE Asia (IFEEC 2017 - ECCE Asia)
Verlag / Institution:
IEEE
Publikationsdatum:
01.06.2017
Jahr:
2017
Print-ISBN:
9781509051571
Volltext / DOI:
doi:10.1109/ifeec.2017.7992447
BibTeX
Vorkommen:
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Informatik 6 - Lehrstuhl für Robotik, Künstliche Intelligenz und Echtzeitsysteme (Prof. Knoll)
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Informatik 6 - Lehrstuhl für Echtzeitsysteme und Robotik (Prof. Knoll)