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Document type:
Konferenzbeitrag
Contribution type:
Textbeitrag / Aufsatz
Author(s):
Tremmel, A.J.; Rauscher, M.S.; Murr, P.J.; Schardt, M.; Koch, A.W.
Title:
Reflektometrische hyperspektrale Dünnschichtmessung
Book / Congress title:
XXIX. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik (AHMT), Ilmenau, Deutschland, 16.-18.09.2015, S. 99-106
Publisher:
DE GRUYTER
Publisher address:
Oldenburg
Year:
2015
Year / month:
2015-09
Month:
Sep
Print-ISBN:
ISBN 978-3-11-040852-2
Reviewed:
ja
Language:
de
Publication format:
Print
Fulltext / DOI:
doi:doi: 10.1515/9783110408539-013
WWW:
http://www.degruyter.com/view/product/449349?rskey=LlZSbX&result=1
Semester:
SS 15
TUM Institution:
Lehrstuhl für Messsystem- und Sensortechnik
Format:
Text
 BibTeX